U ovom izlaganju predstavit ću blisko povezane tematike koji se tiču svojstava površina, atomski tankih adsorbiranih slojeva i intrinzičnih atomski tankih slojeva. Karakterizacija atomske strukture, elektronske strukture i elektronskih korelacija uz upotrebu površinski osjetljivih tehnika poput pretražnih mikroskopija (STM, AFM) i elektronskih spektroskopija (ARPES) pruža široki set informacija za razumijevanje fizikalnih i kemijskih svojstava tih sustava.

Ključni sastojak navedenih istraživanja je vlastiti dizajn, priprava, sinteza i modifikacija uzoraka, dobro definiranih i čistih na nanometarskoj odnosno atomskoj skali. Taj pristup se osobito odražava u centralnom fokusu izlaganja, koji se odnosi na grafen i srodne 2D materijale gdje su u zadnjih 7-8 godina istraživanja doprinijela znatnoj vidljivosti Instituta za fiziku. Istraživanja 2D materijala potaknula su vlastiti razvoj dodatnih CVD tehnika za sintezu uzoraka što proširuje mogućnosti da se proučavaju i kroje 2D strukture ciljanih mehaničkih, optičkih ili transportnih svojstava. Na tom tragu, predstavit ću perspektive istraživanja za idućih 10-ak godina, koje pružaju mogućnosti interdisciplinarnog udruživanja i daljnjeg razvoja istraživanja i Instituta za fiziku.