Ova stranica koristi kolačiće (cookies) kako bi osigurala bolje korisničko iskustvo.

Više informacija možete pronaći u Izjavi o kolačićima.

Slažem se

Kontrast Disl
A A A
Znanstvene vijesti — 21.10.2021.

Electronic Structure of Quasi-Freestanding WS2/MoS2 Heterostructures

Naš doktorand Borna Pielić i nekoliko članova SIMAT grupe, zajedno sa suradnicima sa Sveučilišta u Siegenu i Sveučilišta u Zagrebu, objavili su znanstveni rad u prestižnom časopisu ACS Applied Materials & Interfaces na temu rasta i karakterizacije kvazi-slobodnostojećih WS2/MoS2 heterostruktura. 

Electronic Structure of Quasi-Freestanding WS2/MoS2 Heterostructures

Borna Pielić, Dino Novko, Iva Šrut Rakić, Jiaqi Cai, Marin Petrović, Robin Ohmann, Nataša Vujičić, Mario Basletić, Carsten Busse, and Marko Kralj,  ACS Appl. Mater. Interfaces (2021).

DOI: https://pubs.acs.org/doi/full/10.1021/acsami.1c15412

 

Rast dvodimenzionalnih (2D) materijala u uvjetima ultra-visokog vacuuma (UHV) omogućuje in-situ karakterizaciju uzoraka s direktnim spektroskopskim uvidom. Heteroepitaksija dihalkogenida prijelaznih metala (TMDs) u UHV-u još uvijek je izazov za integraciju određenih monoslojeva u novi funkcionalni sistem. U ovom radu proučen je epitaksijalni rast lateralne WS2 −MoS2 i vertikalne WS2/MoS2 heterostrukture na grafenu (slika 1). Uz pomoć skenirajuće tunelirajuće spektroskopije (STS) te teorije funkcionala gusto¢e (DFT), prvo je istražena elektronska struktura monoslojeva MoS2 i WS2, te WS2/MoS2 vertikalne heterostrukture. Slaba van der Waals (vdW) interakcija između TMD-a i grafena rezultirala je relativno velikim energijskim procijepima i tek neznatnim razlikama s  dobivenim DFT-PBE0 računima za slobodnostojeće slojeve. Također, zaključeno je da se i ostale kritične točke u energiji dobro slažu s DFT-om. U WS2/MoS2 vertikalnoj heterostrukturi otkriveno je jako međuslojno vezanje na temelju razlike u energiji kritičnih točaka Γ1 i Γ2

Slika 1: (a) STM slika WS2 −MoS2 lateralne i WS2/MoS2 vertikalne heterostrukture na Gr/Ir(111). Napon tuneliranja, struja tuneliranja: 1.2 V, 0.05 nA, skala: 10 nm. (b) Shematski prikaz uzduž zelene linije u (a). (c) Linijski STM profil uzduž zelene linije u (a), koji prikazuje razliku u visinama karakterističnih područja: grafen, WS2, MoS2 i WS2/MoS2 vertikalna heterostruktura. (d) LEED struktura je superpozicija WS2 (žuto), MoS2(cijan) i grafenskih (magenta) točaka označenih krugovima. Elektronska energija: 73 eV.

Slika 1: (a) STM slika WS2 −MoS2 lateralne i WS2/MoS2 vertikalne heterostrukture na Gr/Ir(111). Napon tuneliranja, struja tuneliranja: 1.2 V, 0.05 nA, skala: 10 nm. (b) Shematski prikaz uzduž zelene linije u (a). (c) Linijski STM profil uzduž zelene linije u (a), koji prikazuje razliku u visinama karakterističnih područja: grafen, WS2, MoS2 i WS2/MoS2 vertikalna heterostruktura. (d) LEED struktura je superpozicija WS2 (žuto), MoS2 (cijan) i grafenskih (magenta) točaka označenih krugovima. Elektronska energija: 73 eV.

Štoviše, istraženo je i savijanje vrpci u neposrednoj blizini uskih jednodimenzionalnih (1D) granica, naime WS2 −MoS2 lateralne heterostrukture te zrcalne granice domena (MTB) u WS2/MoS2 vertikalnoj heterostrukturi. Uz pomoć STS-a i DFT-a dobivene su pozicija-energija mape za svaki sistem. Za dobro definiranu granicu WS2 −MoS2 lateralne heterostrukture potvrđeno pridruženje vrpci tipa-II (slika 2). Uz pomoć jednostavnog udžbeničkog modela za pn spojeve, određeno je električno polje na granici od 100×106 V/m te područje osiromašenja naboja od 5 nm. Takva mala područja osiromašenja naboja popraćena su relativno velikim koncentracijama naboja. Uz ovaj model, korištena je i nelinearna Thomas-Fermi teorija uz pomoć koje su određene koncentracije naboja, te je zaključeno da se potonja dva modela relativno dobro slažu. Granica domena, konkretno 4|4E MTB, pojavljuje se između dva WS2 otoka na MoS2 na Gr/Ir(111). Linijski STS profil otkriva da se oba ruba energijskog procjepa savijaju simetrično s obzirom na granicu. Zaključeno je da MTB sadrži naboj definiran 1D vrpcom MTB-a te polarizacijskim nabojem. Razmatranjem savijanja kritičnih točaka u energiji na rubovima procjepa, dolazi se također do zaključka da dielektrično zasjenjenje od grafena uglavnom utječe na prvi sloj, odnosno MoS2. U takvoj su okolini WS2/MoS2 heterostrukturi parcijalno sačuvana njena slobodnostojeća svojstva. Kvazi-slobodnostojeće heterostrukture s oštro definiranim granicama, visokim intrinsičnim električnim poljima, te uskim područjima osiromašenja odlični su kandidati za dizajniranje elektroničkih i optoelektroničkih uređaja budućnosti.

Figure 4: (a) STS linijski profil WS2 −MoS2 lateralne heterostrukture. Siva linija označava poziciju granice. (b) Pozicija-energija mapa s gustoćom elektronskih stanja (DOS) prikazanom skalom u boji. Mapa je dobivena DFT-PBE računom za jediničnu ćeliju prikazanu ispod.

Slika 2: (a) STS linijski profil WS2 −MoS2 lateralne heterostrukture. Siva linija označava poziciju granice. (b) Pozicija-energija mapa s gustoćom elektronskih stanja (DOS) prikazanom skalom u boji. Mapa je dobivena DFT-PBE računom za jediničnu ćeliju prikazanu ispod.

IF Ⓒ 2017